一、介電常數(shù)介質損耗試驗儀概述

GDAT高頻 Q 表作為一代的通用、多用途、多量程的阻抗測試儀器，測試頻率上限達到目前高的160MHz。該儀器用于科研機關、學校、工廠等單位對無機非金屬新材料性能的應用研究。 

  主要技術特性  
Q 值測量范圍  2 ～ 1023 ， 量程分檔： 30 、 100 、 300 、 1000 ，自動換檔或手動換檔  
固有誤差  ≤ 5 ％ ± 滿度值的 2 ％（ 200kHz ～ 10MHz ）， ≤6％ ± 滿度值的2％（10MHz～160MHz）  
工作誤差  ≤7％ ± 滿度值的2％ （ 200kHz ～ 10MHz ）， ≤8％ ± 滿度值的2％（10MHz～160MHz）  
電感測量范圍  4.5nH ～ 140mH  
電容直接測量范圍  1 ～ 200pF  
主電容調節(jié)范圍  18 ～ 220pF  
主電容調節(jié)準確度  100pF 以下 ± 1pF ； 100pF 以上 ± 1 ％  
信號源頻率覆蓋范圍  100kHz ～ 160MHz  
頻率分段 （ 虛擬 ）  100 ～ 999.999kHz ， 1 ～ 9.99999MHz,10 ～ 99.9999MHz ， 100 ～ 160MHz  
頻率指示誤差  3 × 10 -5 ± 1 個字  

介電常數(shù)Σ的測試
a. 再松開二極片，把被測樣品插入二極片之間，調節(jié)平板電容器，到二極片夾住樣品止（注意調節(jié)時要用測微桿，以免夾得過緊或過松），這時能讀取的測試裝置液晶顯示屏上的數(shù)值，既是樣品的厚度D2。改變Q 表上的主調電容容
量，使Q 表處于諧振點上。
b. 取出平板電容器中的樣品，這時Q 表又失諧，此時調節(jié)平板電容器，
使Q 表再回到諧振點上，讀取測試裝置液晶顯示屏上的數(shù)值記為D4
c. 計算被測樣品的介電常數(shù)：
                       Σ＝D2 / D4

2．介質損耗系數(shù)的測試

a. 重新把測試裝置上的夾具插頭插入到Q 表測試回路的“電容”兩個端上。把被測樣品插入二極片之間，改變Q 表上的主調電容容量，使Q 表處于諧振點上，讀得Q 值，記為Q2。電容讀數(shù)記為C2。

b. 取出平板電容器中的樣品，這時Q 表又失諧，再改變Q 表上的主調電容容量，使Q 表重新處于諧振點上。讀得Q 值，記為Q1。電容讀數(shù)記為C1。

c. 然后取下測試裝置，再改變Q 表上的主調電容容量，重新使之諧振，電容讀數(shù)記為C3，此時可計算得到測試裝置的電容為CZ = C3 －C1

d. 計算被測樣品的介質損耗系數(shù)

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式中：CZ 為測試裝置的電容（平板電容器二極片間距為樣品的厚度D2）
C0 為測試電感的分布電容（參考LKI-1 電感組的分布電容值）